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Siebdruck
Klimatisierte Räume mit stabiler Temperatur, konstanter Luft-feuchtigkeit und Reinluftzufuhr, erzielte Reinraumklasse C1.000. Ein-und Mehrlagendruck Durchkontaktierung, Fineline und Feinstliniendruck (bis 80µm). |
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Druckkontrolle
Optische Druckkontrolle unmittelbar nach dem Druckvorgang. |
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Zinndruck
Halbautomatischer Lotpastendruck, optische 2D und 3D Vermessung, Präzision auf 2µm genau. Es werden nur finepitchtaugliche Lotpasten eingesetzt. |
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SMD-Bestückung
Kleinste Bauform 0402, Alle SMD-Gehäuse für Halbleiter, BGA's Mikro-BGA's und Flip-Chips, QFP's bis zu einem Anschlußraster von 0,254mm prozessicher. SMD-Stecker bis 150mm Länge, Exotenbestückung, Bestückung von Flex bzw. Starr-Flex-Leiterplatten sowie Keramiksubstraten. |
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Innenansicht
eines aufgerüsteten Bestückungsautomaten (2Kopf - Präzisionsbestücker). Vermessen bzw. Zentrieren von definierten Komponenten per Laser, Präzision bis auf 10µm genau. |
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Einlesen
von BOC-Marken per Infrarotlichtkamera zum Ausgleich von Toleranzen bei Mehrfach-leiterplatten ermöglichen eine gleichbleibend hohe Bestückungspräzision. |
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Handbestückung
Konventionelle Komponenten werden an speziell eingerichteten und antistatisch gesicherten Arbeitsplätzen bestückt. |
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Bondabteilung
Klimatisierte Räume mit stabiler Temp., konstanter Luft-feuchtigkeit und Reinluftzufuhr, erzielte Reinraumklasse C1.000. Ultrasonic - Wedge-Wedge-Verfahren Aluminium-Dünndrahtbonden Gold-Dünndrahtbonden (beheizte Aufnahme) Max. Drahtstärke jeweils 50µm. |
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Bondprozess
mit Bondprozesskontrolle. Der Bondautomat aus dem Hause F&K Delvotec verfügt über einen Kontrollmechanismus, der bei jedem Draht fehlerhafte Parameter sofort anzeigt. Ein stetig hoher und gleichbleibender Qualitätsstandard kann somit gewährleistet werden. |
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Die-Bonding
per Vollautomat mit hoher Präzision, bis auf 1µm genau! Bestückung von Mikro-Chips, Flip-Chips als auch Asics, sowohl vom Wafer als auch vom Wafflepack. |
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Prüffeld
Incircuit-Test, Stand Alone, Passive und aktive Bauteile, IC's, Zuverlässigkeitstest, Burn- In, Run- In, Sicherheitstests (z. B. nach VDE). |
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Funktionstest
Inline, Stand Alone, Applikationsspezifische Teilprüfung, Vollständige Funktionsprüfung zu 100%. |